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半导体无尘室温湿度控制中的常见问题

发布时间:2023-12-22 17:04:11

随着半导体生产工艺的不断发展,更精密、集成度更高是行业发展的趋势,对无尘室的温湿度要求也越来越严格。那么,在温湿度控制中有哪些常见的问题呢?
 
目前,制造工艺已经进入亚纳米时代线宽都在30-180 纳米之间,对生产设备的精度要求越来越严格,因此,除了设备本身的工艺水平需要达到生“要求以外,其所处的生产环境一无尘室的各项指标也必须被严格地控制,包括: 洁净度、温湿度、照度流方向、振动静电、磁场以及有害气体等。其中的温湿度控制是重点,其控制的效果直接影响着生产的优良率。目前半导体无尘室对温湿度的控制范围通常为: 温度22+/-0.5C,湿度45+/-3%RH。
 
温湿度的控制是一个较为复杂的过程,期间也会出现各种问题。在MAU 的温湿度处理过程中,为了解决除湿问题,通常采用湿度优先的方法,冷水阀主要用来除湿,同时也造成温度的下降,然后通过热水阀的再热,使温湿度均能达到所要求的值。这样的做法虽然可以满足设计要求,但在相当多的时候,冷热水阀使能量相互抵消,造成了能源的浪费。
 
另外,如果进入洁净室的新风温度过高,将导致整个洁净室的热负荷加大,DCC开度增大以抵消新风带来的热负荷:如果进入洁净室的新风的温度过低,将更得在DCC开度为零时都无法达到环境温度的要求。根据统计数据,空调系统的能耗占整个半导体厂的能耗的30% - 35%,因此对空调设备进行优化控制,选择合理温湿度设定值,对提高整个洁净室温湿度控制的稳定性及节能具有重要的意义。
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